優(yōu)學(xué)云測(cè)評(píng)推出中小學(xué)生快速提分方案

近期，優(yōu)學(xué)云測(cè)評(píng)系統(tǒng)針對(duì)中小學(xué)生學(xué)習(xí)成績(jī)問(wèn)題推出“測(cè)—評(píng)—提”快速提分方案。該方案運(yùn)用“閃測(cè)”技術(shù)，從全面掃描學(xué)生知識(shí)點(diǎn)，精準(zhǔn)定位學(xué)生知識(shí)點(diǎn)漏洞開始，對(duì)學(xué)生進(jìn)行學(xué)科分析、考試成績(jī)分析、學(xué)習(xí)軌跡分析等，最后依據(jù)科學(xué)的分析報(bào)告，學(xué)生可以進(jìn)行針對(duì)性的學(xué)習(xí)，快速提升考試成績(jī)。同時(shí)老師也可將該方案應(yīng)用于教學(xué)中，及時(shí)了解學(xué)生知識(shí)點(diǎn)掌握情況，調(diào)整教學(xué)安排。

“閃測(cè)”技術(shù)是基于梳理的知識(shí)點(diǎn)，學(xué)生通過(guò)自我評(píng)價(jià)的方式在有限的時(shí)間內(nèi)迅速判斷出自己是否掌握某一知識(shí)點(diǎn)，后再與學(xué)生實(shí)際的掌握情況做出對(duì)比，快速查找學(xué)科上知識(shí)點(diǎn)漏洞的測(cè)評(píng)方法。該方法可以幫助學(xué)生精準(zhǔn)定位知識(shí)點(diǎn)漏洞，幫助學(xué)生分析原因，從而制定出個(gè)性化的學(xué)習(xí)方案。